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Photonic Lattice
應(yīng)力測(cè)量?jī)x
PA-300Photonic Lattice 應(yīng)力測(cè)量?jī)x 全域面測(cè)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
Photonic Lattice 應(yīng)力測(cè)量?jī)x 全域面測(cè)專門針對(duì)大相位差、高殘余應(yīng)力透明樣品,實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,不是工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)在線傳感器。
產(chǎn)品分類
Photonic Lattice 應(yīng)力測(cè)量?jī)x 全域面測(cè)
Photonic Lattice 應(yīng)力測(cè)量?jī)x 全域面測(cè)
專門針對(duì)大相位差、高殘余應(yīng)力透明樣品,實(shí)驗(yàn)室臺(tái)式光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,不是工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)在線傳感器。
測(cè)量原理:光子晶體偏振陣列,無旋轉(zhuǎn)偏振片,無運(yùn)動(dòng)部件;三波長交叉運(yùn)算消除相位差纏繞,實(shí)現(xiàn) 0?3500nm 超大相位差量程
性能指標(biāo)
相位差重復(fù)精度:σ<0.1?nm;光軸方位精度 σ<0.1°
傳感器像素:848×680(57 萬像素),分辨率較 WPA?200 提升 5 倍
測(cè)量時(shí)間:數(shù)秒完成一整個(gè)視場(chǎng)二維成像,不是單點(diǎn)掃描
光源:523nm /543nm /575nm 三波長可見光
軟件:WPA?View,支持點(diǎn) / 線 / 面分析、云圖導(dǎo)出、報(bào)表輸出、遠(yuǎn)程控制接口
可選配件:變焦鏡頭、遮光罩、電動(dòng)位移臺(tái)、應(yīng)力換算模塊、遠(yuǎn)程控制功能。
光學(xué)注塑件:VR/AR 樹脂鏡片、導(dǎo)光板、汽車儀表透明面板,注塑殘余應(yīng)力評(píng)價(jià),優(yōu)化注塑工藝參數(shù)。
高分子厚板材:PC、PMMA 厚板、厚光學(xué)膠片,成型、冷卻后的雙折射與殘余應(yīng)力檢測(cè)。
光學(xué)元件:厚透鏡、光學(xué)樹脂部件,評(píng)估脫模應(yīng)力、翹曲誘因。
材料研發(fā):高分子改性、流變實(shí)驗(yàn),觀察材料內(nèi)部應(yīng)力分布。
品質(zhì)管控:來料、成品抽檢,對(duì)比不同工藝批次應(yīng)力云圖,判定產(chǎn)品良率。