MITUTOYO三豐  消色差物鏡   無限遠校正

MITUTOYO三豐  消色差物鏡   無限遠校正

工業測量顯微鏡專用無限遠平場復消色差明場物鏡，三豐 MF/MF-U、VMU、WLI 白光干涉單元的標配光學核心組件。面向精密工業顯微檢測，主打長工作距離 + 全視場平像 + 優異色差校正，區別普通生物物鏡；可搭配 WLI-Unit-003 白光干涉測頭做 3D 形貌測量，也用于尺寸測量、外觀缺陷質檢

優勢特點

1. 無限遠光學校正：搭配三豐管鏡，成像穩定，適配相機采集、白光干涉模塊

2. 平場復消色差 Plan Apo：全視場色差、球差、場曲校正，畫面從中心到邊緣清晰平坦，色彩還原優秀

3. 長工作距離 WD：相比普通物鏡，樣品上方操作空間大，可放置治具、夾持件，不會撞工件

4. 可見光全波段校正（436~656nm），明場 BF 專用，成像通透

5. M26 標準安裝螺紋，三豐轉塔通用，同系列倍率可快速切換

6. 齊焦 95mm，切換倍率無需大幅重新對焦，檢測效率高

7. 多倍率完整產品線：1×/2×/5×/7.5×/10×/20×/50×/100× 全覆蓋

8. HR 高分辨子型號：更高 NA，微小缺陷、微細線條解析力更強

9. SL 超長工作距版本：超大 WD，適合高凸起工件、治具檢測

應用場景

• 光學行業：透鏡、濾光片、光學鍍膜表面瑕疵、輪廓觀察（搭配 WLI 做 3D 形貌）

• 半導體：晶圓、MEMS、光刻微結構、引線框架微觀缺陷檢測

• 精密零件：微小臺階、毛刺、劃痕、微孔、精密模具顯微觀測

• 電子行業：PCB 微線路、芯片電極、薄膜表面顯微質檢

• 計量實驗室：顯微鏡尺寸測量、輪廓比對，搭配 MF-U 測量顯微鏡