HIOKI日置   高頻阻抗分析儀 雙模式測量

HIOKI日置   高頻阻抗分析儀 雙模式測量

目標(biāo)客戶：射頻元器件廠、濾波器 / 共模電感 / 磁珠研發(fā)、通信器件實(shí)驗(yàn)室、貼片元件自動(dòng)化產(chǎn)線，1MHz~3GHz 寬頻阻抗測試，既能掃頻做器件射頻特性分析，又能高速產(chǎn)線自動(dòng)化分選**

產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 最高 3GHz 寬頻覆蓋，滿足射頻貼片電感、鐵氧體磁珠、濾波器、諧振器高頻阻抗特性表征

2. 超快 0.5ms 采樣，高速自動(dòng)化產(chǎn)線批量分選，不拖慢流水線節(jié)拍

3. 獨(dú)立小型測試頭，減少射頻引線寄生電感電容，大幅提升 3GHz 頻段測量準(zhǔn)確度

4. 雙測量模式

1. LCR 模式：單點(diǎn)頻快速合格判定，適合產(chǎn)線；

2. 分析模式：頻率 / 電平掃描，繪制阻抗曲線、諧振峰，研發(fā)器件特性

5. 完備接觸檢測：DCR 直流電阻檢查、Hi-Z 開路篩選、波形判定，自動(dòng)識(shí)別探針接觸不良，避免誤判

6. 等效電路擬合，內(nèi)置 5 種等效模型，提取 RLC 寄生參數(shù)，輔助器件仿真建模

7. 多條件存儲(chǔ)，最多 46 組測量條件保存，一鍵切換不同元件測試方案

8. 豐富補(bǔ)償：開路 / 短路 / 負(fù)載 / 電氣長度補(bǔ)償，消除夾具、線纜高頻寄生誤差

應(yīng)用場景

1. 射頻 SMD 元件研發(fā)：貼片射頻電感、鐵氧體磁珠、高頻濾波器、壓電諧振器掃頻阻抗、諧振點(diǎn)分析

2. 無源器件產(chǎn)線檢測：通信元器件自動(dòng)化 ATE 測試，高速 OK/NG 批量分選

3. 電源與 EMC 器件測試：共模電感、功率磁珠高頻阻抗、插入損耗評(píng)估

4. 材料與介質(zhì)評(píng)估：介質(zhì)材料、壓電元件阻抗頻譜特性測試

5. 電路仿真參數(shù)提取：提取器件寄生 R/ L/C 參數(shù)，導(dǎo)入電路仿真軟件做仿真驗(yàn)證