OTSUKA大塚電子   粒徑分析系統(tǒng)  

OTSUKA大塚電子   粒徑分析系統(tǒng)  

一體化納米膠體物性表征設備，面向科研、藥企研發(fā)、優(yōu)良材料企業(yè)；區(qū)別于普通單功能粒度儀，主打溶液顆粒 + 固體平板表面 Zeta 電位一體化測試，兼顧粒徑、電位、分子量、微流變多參數(shù)，

特點 & 優(yōu)勢

1. 測量范圍寬：粒徑 0.6 nm～10 μm；分子量 340～2×10?；可測濃度從極稀到最高 40% 高濃度體系

2. 高鹽體系優(yōu)勢突出：支持高鹽環(huán)境下平板 / 薄膜樣品表面 Zeta 電位測試，解決傳統(tǒng)儀器高鹽條件下電極干擾難題，適合生物緩沖液、電解液樣品

3. 多角度光散射：多角度檢測，分辨多分散、多峰樣品，比單角度 DLS 分辨率更強

4. 溫控與溫度梯度：0～90℃連續(xù)控溫，溫度梯度掃描，可做蛋白變性、相變過程研究

5. 微量樣品友好：低 3 μL 進樣，適合珍貴蛋白、外泌體、生物制劑樣品

6. 功能模塊化擴展：標配粒徑 + Zeta 電位；可選：分子量、粒子濃度、微流變、凝膠網(wǎng)絡解析、熒光濾片；ELSZneo SE 版本可按需選配，控制預算

7. 電滲流實測校正：自動實測并校正電滲流，Zeta 電位結果更穩(wěn)定；支持選配 FDA 21CFR Part11，滿足藥企合規(guī)審計要求

應用場景

• 生物醫(yī)藥：蛋白、多肽、脂質(zhì)體、納米制劑 DDS、外泌體、VLP、疫苗佐劑，處方穩(wěn)定性、聚集趨勢評價、緩沖條件篩選

• 半導體：CMP 拋光漿料、晶圓表面改性、表面吸附機理研究、優(yōu)良封裝表面電位表征

• 新能源材料：碳納米管、催化劑、燃料電池膜、納米分散漿料

• 精細化工 / 日化涂料：乳液、顏料、陶瓷溶膠、色漿分散與團聚控制

• 高分子、界面化學、高?？蒲性核z體與表面方向課題