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OTSUKA大塚 膜厚計 多層同步測 微區薄膜光學檢測設備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區域膜厚 + 光學常數 n/k 解析**,兼顧研發、品控、產線在線監測;適合需要微區定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產品型號:SF-3/1300
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OTSUKA大塚 膜厚計 無損非接觸 微區薄膜光學檢測設備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區域膜厚 + 光學常數 n/k 解析**,兼顧研發、品控、產線在線監測;適合需要微區定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產品型號:SF-3/800
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OTSUKA大塚 膜厚計 單側可測厚 微區薄膜光學檢測設備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區域膜厚 + 光學常數 n/k 解析**,兼顧研發、品控、產線在線監測;適合需要微區定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產品型號:SF-3/300
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OTSUKA大塚 膜厚計 高速采數據 微區薄膜光學檢測設備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區域膜厚 + 光學常數 n/k 解析**,兼顧研發、品控、產線在線監測;適合需要微區定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產品型號:SF-3/200
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OTSUKA大塚 智能膜厚計 分光橢偏儀 微區薄膜光學檢測設備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區域膜厚 + 光學常數 n/k 解析**,兼顧研發、品控、產線在線監測;適合需要微區定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產品型號:FE-5000
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OTSUKA大塚 智能膜厚計 反射光譜法 微區薄膜光學檢測設備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區域膜厚 + 光學常數 n/k 解析**,兼顧研發、品控、產線在線監測;適合需要微區定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產品型號:SM-100S
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