
產品簡介
OTSUKA大塚電子 粒徑分析系統 上海一體化納米膠體物性表征設備,面向科研、藥企研發、優良材料企業;區別于普通單功能粒度儀,主打**溶液顆粒 + 固體平板表面 Zeta 電位一體化測試**,兼顧粒徑、電位、分子量、微流變多參數,
產品分類
OTSUKA大塚電子 粒徑分析系統 上海
OTSUKA大塚電子 粒徑分析系統 上海
一體化納米膠體物性表征設備,面向科研、藥企研發、優良材料企業;區別于普通單功能粒度儀,主打溶液顆粒 + 固體平板表面 Zeta 電位一體化測試,兼顧粒徑、電位、分子量、微流變多參數,
測量范圍寬:粒徑 0.6 nm~10 μm;分子量 340~2×10?;可測濃度從極稀到最高 40% 高濃度體系
高鹽體系優勢突出:支持高鹽環境下平板 / 薄膜樣品表面 Zeta 電位測試,解決傳統儀器高鹽條件下電極干擾難題,適合生物緩沖液、電解液樣品
多角度光散射:多角度檢測,分辨多分散、多峰樣品,比單角度 DLS 分辨率更強
溫控與溫度梯度:0~90℃連續控溫,溫度梯度掃描,可做蛋白變性、相變過程研究
微量樣品友好:低 3 μL 進樣,適合珍貴蛋白、外泌體、生物制劑樣品
功能模塊化擴展:標配粒徑 + Zeta 電位;可選:分子量、粒子濃度、微流變、凝膠網絡解析、熒光濾片;ELSZneo SE 版本可按需選配,控制預算
電滲流實測校正:自動實測并校正電滲流,Zeta 電位結果更穩定;支持選配 FDA 21CFR Part11,滿足藥企合規審計要求
生物醫藥:蛋白、多肽、脂質體、納米制劑 DDS、外泌體、VLP、疫苗佐劑,處方穩定性、聚集趨勢評價、緩沖條件篩選
半導體:CMP 拋光漿料、晶圓表面改性、表面吸附機理研究、優良封裝表面電位表征
新能源材料:碳納米管、催化劑、燃料電池膜、納米分散漿料
精細化工 / 日化涂料:乳液、顏料、陶瓷溶膠、色漿分散與團聚控制
高分子、界面化學、高校科研院所膠體與表面方向課題