OTSUKA大塚   多通道光譜儀  雜散光極低

OTSUKA大塚   多通道光譜儀  雜散光極低

光纖式高速多通道光譜儀，兼顧實驗室研發 + 產線在線集成兩大方向；非接觸、快速分光檢測，可做光譜、色度、透過、反射、熒光、薄膜膜厚解析。

特點 & 優勢

1. 雜散光極低：雜散光相比前代降低至約 1/5，紫外、弱光測試優勢明顯大塚電子

2. 高動態范圍 HDR，可同時測強光與微弱發光樣品；曝光 5 ms～65 s，高速瞬態采集或長時間弱光測量均可

3. 內置擾模光纖（Scramble Fiber），大幅提升光纖耦合測量的重復性，光纖彎曲、位置變動時結果穩定

4. 波長版本豐富：UV-Vis、Vis-NIR、近紅外 900–1600nm 可選，含 InGaAs 近紅外檢測器

5. 體積緊湊輕量化，比老機型體積縮減約 60%；支持 USB+LAN，遠程程控，極易嵌入自動化設備

6. 可同步光譜、色度、膜厚、相位差，多層薄膜解析能力強

應用場景

• 半導體光學膜、光學鍍膜、濾光片、AR 膜膜厚與光學常數 nk 檢測

• 顯示行業：背光、MiniLED、OLED、光源光譜、色坐標、亮度、色偏檢測

• 光學材料：玻璃、薄膜、涂層、膠體的透射 / 反射光譜

• 熒光、PL 光致發光、等離子體發光、光源質檢

• 日化、薄膜包裝、油墨顏料顏色管控

• 產線在線 in?line 監控：鍍膜機、涂布機、研磨終點監控、多點同步監測

• 高校研究所光學、光化學、材料表征實驗