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OTSUKA大塚 膜厚計 多層同步測 微區(qū)薄膜光學(xué)檢測設(shè)備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區(qū)域膜厚 + 光學(xué)常數(shù) n/k 解析**,兼顧研發(fā)、品控、產(chǎn)線在線監(jiān)測;適合需要微區(qū)定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優(yōu)于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產(chǎn)品型號:SF-3/1300
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OTSUKA大塚 膜厚計 無損非接觸 微區(qū)薄膜光學(xué)檢測設(shè)備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區(qū)域膜厚 + 光學(xué)常數(shù) n/k 解析**,兼顧研發(fā)、品控、產(chǎn)線在線監(jiān)測;適合需要微區(qū)定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優(yōu)于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產(chǎn)品型號:SF-3/800
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OTSUKA大塚 膜厚計 單側(cè)可測厚 微區(qū)薄膜光學(xué)檢測設(shè)備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區(qū)域膜厚 + 光學(xué)常數(shù) n/k 解析**,兼顧研發(fā)、品控、產(chǎn)線在線監(jiān)測;適合需要微區(qū)定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優(yōu)于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產(chǎn)品型號:SF-3/300
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OTSUKA大塚 膜厚計 高速采數(shù)據(jù) 微區(qū)薄膜光學(xué)檢測設(shè)備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區(qū)域膜厚 + 光學(xué)常數(shù) n/k 解析**,兼顧研發(fā)、品控、產(chǎn)線在線監(jiān)測;適合需要微區(qū)定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優(yōu)于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產(chǎn)品型號:SF-3/200
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OTSUKA大塚 智能膜厚計 分光橢偏儀 微區(qū)薄膜光學(xué)檢測設(shè)備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區(qū)域膜厚 + 光學(xué)常數(shù) n/k 解析**,兼顧研發(fā)、品控、產(chǎn)線在線監(jiān)測;適合需要微區(qū)定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優(yōu)于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產(chǎn)品型號:FE-5000
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OTSUKA大塚 智能膜厚計 反射光譜法 微區(qū)薄膜光學(xué)檢測設(shè)備,定位介于普通分光膜厚儀與橢偏儀之間;主打**微小圖案區(qū)域膜厚 + 光學(xué)常數(shù) n/k 解析**,兼顧研發(fā)、品控、產(chǎn)線在線監(jiān)測;適合需要微區(qū)定點、面分布 mapping 掃描場景,性價比優(yōu)于橢偏儀
更新時間:2026-11-06
產(chǎn)品型號:SM-100S
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